熱門關鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切
18519585532
當前位置：首頁 > 產品中心 > 應力儀 > 應力雙折射Exicor-OIA
產品分類
應力儀
查看全部產品
相關文章
雙折射（應力）測量系統-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統。
該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射
傳真：010-68214292
郵箱：gloria.yang@opcrown.com
地址：北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部
歡迎訪問北京昊然偉業光電科技有限公司網站！歡迎訪問北京昊然偉業光電科技有限公司網站！
咨詢熱線
應力儀